X-ray powder diffraction measurement on Ba_<24>Ge_<100> under high-pressure/low-temperature using helium pressure medium
X-ray powder diffraction measurement on Ba_<24>Ge_<100> under high-pressure/low-temperature using helium pressure medium
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氦压介质高压低温下Ba_<24>Ge_<100>X射线粉末衍射测量
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Y. Ohishi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Nakano;R. Kumashiro;K. Tanigaki;Y. Imaeda;T. Nakamoto;K. Funahashi;T. Kume;T. Kikegawa;N. Hirao;and Y. Ohishi
