Development of positron probe microanalyzer for a two-dimensional defect mappmg
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复制标题
二维缺陷图谱正电子探针显微分析仪的研制
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤浪眞紀
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Tokonami;H.Shiigi;T.Nagaoka;藤浪眞紀
