Power Supply Noise and Its Reduction in At-Speed Scan Testing
Power Supply Noise and Its Reduction in At-Speed Scan Testing
复制标题
全速扫描测试中的电源噪声及其降低
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
X. Wen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
逢坂美冬;佐々木智啓;Charles Mejia Cruz;上野雄大;大堀淳;X. Wen
