Defect-resistant luminescent probability of m-plane AlInN alloy films for deep ultraviolet and visible polarized light-emitters
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深紫外可见偏振光发射器m面AlInN合金薄膜的抗缺陷发光概率
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Y. Sato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. F. Chichibu;K. Kojima;A. Uedono;and Y. Sato
