硬X線光電子分光によるEuNi2(Si1-xGex)2(x=0.70, 0.79, 0.82)の温度誘起価数転移の研究
硬X線光電子分光によるEuNi2(Si1-xGex)2(x=0.70, 0.79, 0.82)の温度誘起価数転移の研究
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硬X射线光电子能谱研究EuNi2(Si1-xGex)2(x=0.70,0.79,0.82)温度引起的价态跃迁
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
谷口雅樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
市木勝也;三村功次郎;安齋太陽;魚住孝幸;本並哲;小林大祐;佐藤仁;内海有希;上田茂典;光田暁弘;和田裕文;田口幸広;島田賢也;生天目博文;谷口雅樹
