Resolution limits achievable with CMOS front-end in X- and γ-ray analysis with semiconductor detectors
Resolution limits achievable with CMOS front-end in X- and γ-ray analysis with semiconductor detectors
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使用半导体探测器进行 X 射线和 γ 射线分析时 CMOS 前端可实现的分辨率极限
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
V. Speziali
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Manfredi;M. Manghisoni;L. Ratti;V. Re;V. Speziali
