薄膜からの二次電子放出を利用したRIビーム位置敏感型検出器の開発
薄膜からの二次電子放出を利用したRIビーム位置敏感型検出器の開発
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利用薄膜二次电子发射开发 RI 束位置敏感探测器
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
要 直登
中科院分区：
文献类型：
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作者：
牛場崇文;KAGRA Collaboration;向井もも;要 直登
