シミュレーションによる荷電粒子の特性を利用した陽子線画像取得方法の検討
シミュレーションによる荷電粒子の特性を利用した陽子線画像取得方法の検討
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利用带电粒子特性的质子束图像采集方法的模拟研究
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
川嶋和希,阿蘇司,佐々木節,西尾禎治
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C. Iwamoto;H. Utsunomiya;A. Tamii;H. Akimune;H. Nakada;T. Shima;T. Yamagata;T. Kawabata;Y. Fujita;H. Matsubara;et al.;川嶋和希,阿蘇司,佐々木節,西尾禎治
