Spin lifetime in strained InGaAs channels investigated through all electrical spin injection and detection
Spin lifetime in strained InGaAs channels investigated through all electrical spin injection and detection
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通过所有电自旋注入和检测研究应变 InGaAs 通道中的自旋寿命
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Uemura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Akiho;M. Yamamoto;T. Uemura
