T.Inoue, T.Nakamura, S.Nihei, S.Kamata, N.Sakamoto and Y.Yamamoto: "Surface morphology analysis in correlation with crystallinity of CeO_2(110) layers on Si(100) substrates"J.Vac.Sei.Technol. A 18(4). 1613-1616 (2000)
T.Inoue, T.Nakamura, S.Nihei, S.Kamata, N.Sakamoto and Y.Yamamoto: "Surface morphology analysis in correlation with crystallinity of CeO_2(110) layers on Si(100) substrates"J.Vac.Sei.Technol. A 18(4). 1613-1616 (2000)
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T.Inoue、T.Nakamura、S.Nihei、S.Kamata、N.Sakamoto 和 Y.Yamamoto：“与 Si(100) 基板上 CeO_2(110) 层结晶度相关的表面形态分析”J.Vac.Sei
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