集束イオンビーム法を用いたX線単結晶試料の加工
集束イオンビーム法を用いたX線単結晶試料の加工
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使用聚焦离子束法处理 X 射线单晶样品
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中牟田義博
中科院分区：
文献类型：
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作者：
藤昇一;青木大空;中牟田義博
