Chiba Scan Delay Fault Testing with Short Test Application Time
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复制标题
千叶扫描延迟故障测试，测试应用时间短
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Ito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Namba;H.Ito
