D.-K.Qing: "Measurement of the thickness distribution of thin films with a slit-beam-profile reflectometer"Opt.Lett.. 25・12. 914-916 (2000)
D.-K.Qing: "Measurement of the thickness distribution of thin films with a slit-beam-profile reflectometer"Opt.Lett.. 25・12. 914-916 (2000)
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D.-K.Qing：“用狭缝光束轮廓反射计测量薄膜的厚度分布”Opt.Lett.. 25・12 (2000)。
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