Enhancing the Sensitivity and Resolution of Multi-ECT Probe for Inspection of Printed Circuit Board

Enhancing the Sensitivity and Resolution of Multi-ECT Probe for Inspection of Printed Circuit Board
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提高用于印刷电路板检测的 Multi-ECT 探头的灵敏度和分辨率

DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
Transaction on Magnetics Society of Japan (in Japanese) 27, 4
影响因子：
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通讯作者：
T.Taniguchi
T.Taniguchi
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
K.Nakamura;S.Yamada;M.Iwahara;T.Taniguchi

文献摘要

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