基于DGM(1,1)的成败型系统可靠性增长Bayes评价模型
基于DGM(1,1)的成败型系统可靠性增长Bayes评价模型
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DOI：
10.3969/j.issn.1004-132x.2014.08.019
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发表时间：
2014-04
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
方志耕
中科院分区：
文献类型：
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作者：
刘解放;刘思峰;方志耕
针对有多个研制阶段的成败型系统，提出了一种可靠性增长的Bayes评定模型。该模型首先根据Laplace检验，确定系统的可靠性是否增长；然后根据各个阶段可靠度的点估计，运用DGM（1，1）模型对现场试验的可靠度进行预测，得到验前信息，再运用列联表分析计算验前信息与现场试验信息的相似程度；最后，结合Bayes方法对验前信息和现场信息进行融合，在给定的置信度下，得到系统的可靠度置信下限。实例分析表明了该模型的有效性。