The Early Stage of Dislocation Process around a Crack Tip Observed by HVEM-Tomography in Silicon Single Crystals
The Early Stage of Dislocation Process around a Crack Tip Observed by HVEM-Tomography in Silicon Single Crystals
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HVEM-断层扫描观察硅单晶裂纹尖端位错过程的早期阶段
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Hgashida
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Tanaka;S. Sadamatsu;H. Nakamura;K. Hgashida
