Development of Four-Probe Microscopy for Electric Conductivity Measurement
Development of Four-Probe Microscopy for Electric Conductivity Measurement
复制标题
用于电导率测量的四探针显微镜的开发
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Ishikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Matsuda;T.Nakamura;M.Ishikawa
