アバランシェフォトダイオードによる二次電子個数分布の測定
アバランシェフォトダイオードによる二次電子個数分布の測定
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使用雪崩光电二极管测量二次电子数分布
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
西尾達哉,岸本孝則,間嶋拓也,須田慎太郎,中野祐司,東俊行,今井誠,柴田裕美,土田秀次,伊藤秋男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Toshiyuki FUJII;Akihiro UEHARA;Yoshihiro KITATSUJI;and Hajimu YAMANA;余語覚文;西尾達哉,岸本孝則,間嶋拓也,須田慎太郎,中野祐司,東俊行,今井誠,柴田裕美,土田秀次,伊藤秋男
