Island diodes triggering SCR in waffle layout with high failure current for HV ESD protection
Island diodes triggering SCR in waffle layout with high failure current for HV ESD protection
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岛式二极管在华夫饼布局中触发 SCR，具有高故障电流，可实现高压 ESD 保护
DOI：
10.1016/j.sse.2018.11.001
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发表时间：
2018
影响因子：
1.7
通讯作者：
Luo Jun
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Zheng Yifei;Jin Xiangliang;Wang Yang;Guan Jian;Hao Sanwan;Luo Jun
