Nano-structure inspection by dual-rotating Mueller matrix spectro-polarimeter
Nano-structure inspection by dual-rotating Mueller matrix spectro-polarimeter
复制标题
双旋转穆勒矩阵分光旋光仪检测纳米结构
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yukitoshi Otani
中科院分区：
文献类型：
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作者：
渡辺知規;胡寧;早崎芳夫;Yukitoshi Otani
