In-Plane Structure Analysis of BEDT-TIF Thin Films by X-Ray Diffraction
In-Plane Structure Analysis of BEDT-TIF Thin Films by X-Ray Diffraction
复制标题
通过 X 射线衍射分析 BEDT-TIF 薄膜的面内结构
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Yoshizawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N.Yoshimoto;T.Sato;K.Ogawa;K.Omote;Y.Saito;M.Yoshizawa
