Semi-supervised Wafer Map Pattern Recognition using Domain-Specific Data Augmentation and Contrastive Learning
Semi-supervised Wafer Map Pattern Recognition using Domain-Specific Data Augmentation and Contrastive Learning
复制标题
使用特定领域数据增强和对比学习的半监督晶圆图模式识别
DOI：
10.1109/itc50571.2021.00019
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Li, Peng
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hu, Hanbin;He, Chen;Li, Peng
DOI：
10.1137/17m1161853
发表时间：
2019-01
期刊：
SIAM Rev.
影响因子：
--
作者：
Silviu-Ioan Filip;Aurya Javeed;L. Trefethen
通讯作者：
Silviu-Ioan Filip;Aurya Javeed;L. Trefethen
使用多层感知器评估提前停止规则的鲁棒性和性能
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
2009 International Joint Conference on Neural Networks
影响因子：
--
作者：
A. Lodwich;Yves Rangoni;T. Breuel
通讯作者：
T. Breuel
基于深度卷积神经网络的晶圆图缺陷模式分类模型
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
影响因子：
--
作者：
Dong;Zheng Shi
通讯作者：
Zheng Shi