Evaluation of Magnetic Structures of Antiferromagnetic Thin Films for Electric-Voltage-Controlled Magnetic Recording through Mossbauer Spectroscopy
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通过穆斯堡尔谱评估用于电压控制磁记录的反铁磁薄膜的磁结构
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and M. Sahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Mibu;T. Nozaki;N. Shimomura;S. P. Pati;and M. Sahashi
