Impacts of HLS Optimizations on Side-Channel Leakage for AES Circuits
Impacts of HLS Optimizations on Side-Channel Leakage for AES Circuits
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HLS 优化对 AES 电路侧通道泄漏的影响
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroyuki Tomiyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takumi Mizuno;Qidi Zhang;Hiroki Nishikawa;Xiangbo Kong;Hiroyuki Tomiyama
