H.Nakamura: "New Evidence for Double Charged Oxid Trap of Sulmicron MOSFETs" Extended Abstract of the 21th Conference on Solid State Devices and Materials. 21. 465-468 (1989)
H.Nakamura: "New Evidence for Double Charged Oxid Trap of Sulmicron MOSFETs" Extended Abstract of the 21th Conference on Solid State Devices and Materials. 21. 465-468 (1989)
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H.Nakamura：“Sulmicron MOSFET 双电荷氧化陷阱的新证据”第 21 届固态器件和材料会议的扩展摘要。
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