Simulation of fogging electron trajectories in Scanning Electron Microscope
Simulation of fogging electron trajectories in Scanning Electron Microscope
复制标题
扫描电子显微镜中雾化电子轨迹的模拟
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Nishino and M. Kotera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. W. Liu;M. Y. Liao;M. Imura;and Y. Koide;T. Nishino and M. Kotera
