Dielectric spectroscopy of a ferroelectric nematic liquid crystal and the effect of the sample thickness
Dielectric spectroscopy of a ferroelectric nematic liquid crystal and the effect of the sample thickness
复制标题
铁电向列液晶的介电谱及样品厚度的影响
DOI：
10.1016/j.molliq.2023.122566
复制
发表时间：
2023
影响因子：
6
通讯作者：
Erkoreka A
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Erkoreka A
最近发现的铁电液晶显示出非常大的介电常数值。在这里，我们报告了一个原型的铁电体的介电行为的系统调查，通过改变厚度的并联电容测量单元。虽然在非极性高温介电相的结果显示，由于轻微的变化的对齐，只有轻微的差异，在铁电介电相测得的介电常数值显示出线性依赖于细胞的厚度。它还表明，特征弛豫频率降低成反比的厚度。结果进行了讨论，在三个不同的可用模型的基础上不同的基本机制，占取消的探测电场的极化重定向或离子电荷，或基于最近提出的连续的唯象模型。
The recently discovered ferroelectric nematic liquid crystals have been reported to exhibit very large dielectric permittivity values. Here, we report a systematic investigation of the dielectric behavior of a prototypical ferroelectric nematogen by varying the thickness of the parallel capacitor measuring cell. While in the non-polar high temperature nematic phase results show only slight differences due to slight variations of the alignment, the measured permittivity values in the ferroelectric nematic phase show a linear dependence on the cell thickness. It is also shown that the characteristic relaxation frequency decreases inversely proportionally to the thickness. The results are discussed in terms of three different available models based on different underlying mechanisms, accounting for cancellation of the probe electric fields by polarization reorientation or by ionic charges, or based on a recently proposed continuous phenomenological model.
登录
查看更多内容
介电谱研究 DIO 中铁离子相形成的两种机制
影响因子：
6
作者：
N. Yadav;Y. Panarin;J. Vij;Wanhe Jiang;G. Mehl
通讯作者：
G. Mehl
影响因子：
16.6
作者：
Basnet, Bijaya;Rajabi, Mojtaba;Wang, Hao;Kumari, Priyanka;Thapa, Kamal;Paul, Sanjoy;Lavrentovich, Maxim O.;Lavrentovich, Oleg D.
通讯作者：
Lavrentovich, Oleg D.
关于胶体悬浮液介电响应低频测量测定的备注
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
作者：
A. Hollingsworth
通讯作者：
A. Hollingsworth
液晶高频介电谱中的寄生效应——综述
DOI：
--
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
作者：
P. Perkowski
通讯作者：
P. Perkowski
DOI：
--
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
作者：
A.Itoh;M.Kaneda;M.Shimizu;T.Hayakawa;T.Iriki;H.Tsuchida
通讯作者：
H.Tsuchida