H.Tamamoto,K.Usami,K.Seki,H.Yokoyama: "A Non-Scan Testable Desigin of Sequential Circuits"Proc.of IEEE European Test Workshop. 321-322 (2000)
H.Tamamoto,K.Usami,K.Seki,H.Yokoyama: "A Non-Scan Testable Desigin of Sequential Circuits"Proc.of IEEE European Test Workshop. 321-322 (2000)
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H.Tamamoto、K.Usami、K.Seki、H.Yokoyama：“时序电路的非扫描可测试设计”IEEE 欧洲测试研讨会论文集。
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