Characterization of CMOS Compatible Vertical MOSFETs with New Architectures through EKV Parameters Extraction and RF Measurement
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通过 EKV 参数提取和 RF 测量表征具有新架构的 CMOS 兼容垂直 MOSFET
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
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通讯作者：
L Tan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
L Tan
