擬似不揮発性メモリを用いたOFF2Fプログラムの評価
擬似不揮発性メモリを用いたOFF2Fプログラムの評価
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使用伪非易失性存储器评估 OFF2F 程序
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
額田 哲彰,佐藤 将也,山内 利宏,谷口 秀夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小林友明;Oleg Kiselyov;額田 哲彰,佐藤 将也,山内 利宏,谷口 秀夫
