ケルビンプローブ顕微鏡によるCIGSSe層内粒界の電子構造評価
ケルビンプローブ顕微鏡によるCIGSSe層内粒界の電子構造評価
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使用开尔文探针显微镜评估 CIGSSe 层晶界的电子结构
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
寺田 教男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
久保 臣悟;澤田 剛;川村 末洋;島村 拓也;岩本 悠矢;谷川 昴平;加藤 拓也;杉本 広紀;石塚 尚吾;柴田 肇;松原 浩司;仁木 栄;寺田 教男
