Dark-field optical fault detection for point-contact single electron transistors
Dark-field optical fault detection for point-contact single electron transistors
复制标题
点接触单电子晶体管的暗场光学故障检测
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
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通讯作者：
Wenkun He
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Wenkun He
