Quantitative electric field mapping in semiconductor heterostructures via tilt-scan averaged DPC STEM
Quantitative electric field mapping in semiconductor heterostructures via tilt-scan averaged DPC STEM
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通过倾斜扫描平均 DPC STEM 进行半导体异质结构的定量电场测绘
DOI：
10.1016/j.ultramic.2022.113538
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
2.2
通讯作者：
Naoya Shibata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Satoko Toyama;Takehito Seki;Yuya Kanitani;Yoshihiro Kudo;Shigetaka Tomiya;Yuichi Ikuhara;Naoya Shibata
