Work Function and Electronic Structure Measurements on Nitrogen-doped Lanthanum Hexaboride (LaB6) Thin Film by STM
Work Function and Electronic Structure Measurements on Nitrogen-doped Lanthanum Hexaboride (LaB6) Thin Film by STM
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利用 STM 测量氮掺杂六硼化镧 (LaB6) 薄膜的功函数和电子结构
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and S. Ohmi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Nagaoka;and S. Ohmi
