SNDM の半導体応用に関する新技術－時間分解SNDMによる界面欠陥準位の可視化と絶縁膜付き探針を用いた層状構造半導体の観察－
SNDM の半導体応用に関する新技術－時間分解SNDMによる界面欠陥準位の可視化と絶縁膜付き探針を用いた層状構造半導体の観察－
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SNDM的半导体应用新技术 - 通过时间分辨SNDM可视化界面缺陷水平以及使用带绝缘膜的探针观察层状半导体 -
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
長 康雄，山末 耕平
中科院分区：
文献类型：
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作者：
志村舞望;潮田亮太;中辻寛;平山博之;長 康雄，山末 耕平
