Er添加SiOx薄膜の1.5μm発光における内部量子効率測定
Er添加SiOx薄膜の1.5μm発光における内部量子効率測定
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1.5μm 发射下 Er 掺杂 SiOx 薄膜的内量子效率测量
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中村有水
中科院分区：
文献类型：
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作者：
疋田創;住吉猛;中野誠一;曽根田真也;高武明真;中良弘;山本直克;土屋昌弘;中村有水
