温,暁青: "Transistor Leakage Fault Location with Idoo Measurement" IEEE 4th Asicar test Symposiumにて発表予定. (1995)
温,暁青: "Transistor Leakage Fault Location with Idoo Measurement" IEEE 4th Asicar test Symposiumにて発表予定. (1995)
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文晓庆：“利用 Idoo 测量进行晶体管漏电故障定位” 计划在 IEEE 第四届 Asicar 测试研讨会上发表（1995 年）。
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