S.Okamura: "Estimation of a Stray Capacitance in the Measurement of Hysteresis Properties of Ferroelectric Microcapacitors"Japanese Journal of Applied Physics. 43・9B(未定). (2004)
S.Okamura: "Estimation of a Stray Capacitance in the Measurement of Hysteresis Properties of Ferroelectric Microcapacitors"Japanese Journal of Applied Physics. 43・9B(未定). (2004)
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S.Okamura：“铁电微电容器磁滞特性测量中的杂散电容的估计”日本应用物理学杂志 43・9B（待定）。
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