Z.Liu, S.Fujieda, K.Terashima, M.Wilde, K.Fukutani: "Hydrogen Redistribution Induced by Negative-Bias-Temperature Stress in MOS Diodes"Appl. Phys. Lett.. 81. 2397 (2002)
Z.Liu, S.Fujieda, K.Terashima, M.Wilde, K.Fukutani: "Hydrogen Redistribution Induced by Negative-Bias-Temperature Stress in MOS Diodes"Appl. Phys. Lett.. 81. 2397 (2002)
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Z.Liu、S.Fujieda、K.Terashima、M.Wilde、K.Fukutani：“MOS 二极管中负偏压温度应力引起的氢再分布”Appl。
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