イオンコンダクタンス顕微鏡によるコンフルエント上皮細胞の膜揺らぎの定量化
イオンコンダクタンス顕微鏡によるコンフルエント上皮細胞の膜揺らぎの定量化
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使用离子电导显微镜定量汇合上皮细胞的膜波动
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岡嶋孝治
中科院分区：
文献类型：
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作者：
石倉禅*;水谷祐輔;Myung-Hoon Choi;Sang-Joon Cho;岡嶋孝治
