Electron microscopic observation in femtosecond laser-driven shock compressed silicon
Electron microscopic observation in femtosecond laser-driven shock compressed silicon
复制标题
飞秒激光驱动冲击压缩硅的电子显微镜观察
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Tsujino;T.Sano;K.F.Kobayashi;et al
