IODP Expedition 335: Deep Sampling in ODP Hole 1256D
IODP Expedition 335: Deep Sampling in ODP Hole 1256D
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IODP 335 号探险队：ODP 1256D 孔深度采样
DOI：
10.5194/sd-13-28-2012
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发表时间：
2012
影响因子：
1.2
通讯作者：
Teagle D
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Teagle D
