N.Yanagida: "Electron Beam Tester Aided Fault Diagnosis for Logic Circuits based on Sensitized Paths" Proceedings IEEE Seventh Asian Test Symposium. 237-241 (1998)
N.Yanagida: "Electron Beam Tester Aided Fault Diagnosis for Logic Circuits based on Sensitized Paths" Proceedings IEEE Seventh Asian Test Symposium. 237-241 (1998)
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N.Yanagida：“电子束测试仪辅助基于敏化路径的逻辑电路故障诊断”IEEE 第七届亚洲测试研讨会论文集。
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