Measurement of the charged pion mass using X-ray spectroscopy of exotic atoms
Measurement of the charged pion mass using X-ray spectroscopy of exotic atoms
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使用奇异原子的 X 射线光谱测量带电介子质量
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Wells
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Trassinelli;D. Anagnostopoulos;G. Borchert;A. Dax;J. Egger;D. Gotta;M. Hennebach;P. Indelicato;Yi;B. Manil;N. Nelms;L. Simons;A. Wells
