S-Parameter Extraction Methodology in FDTD for Nano-Scale Optical Interconnects
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DOI：
10.1109/telsiks52058.2021.9606330
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发表时间：
2021-10
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Brian Guiana;A. Zadehgol
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Brian Guiana;A. Zadehgol
提出了一种提取由介质板波导组成的光互连散射参数的方法。通过二维时域有限差分法计算一个示例介质板的TE模式衰减和相位延迟，验证了所提出的方法。结果表明，所提出的基于fdtd的方法与解析解之间具有良好的相关性。目前正在进行的工作是将所提出的方法扩展到具有随机表面粗糙度的介电波导。
We propose a methodology for extracting scattering parameters of optical interconnects comprised of dielectric slab waveguides. The proposed methodology is demonstrated by calculating the TE mode attenuation and phase delay of an example dielectric slab in 2D FDTD. Results show good correlation between the proposed FDTD-based methodology and analytic solutions. Work is currently under way to extend the proposed methodology to dielectric waveguides exhibiting stochastic surface roughness.