陶磁器の上絵層における有機物分析の試み－飛行時間型二次イオン質量分析による上絵層と釉薬層との界面の成分に関する検討－
陶磁器の上絵層における有機物分析の試み－飛行時間型二次イオン質量分析による上絵層と釉薬層との界面の成分に関する検討－
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尝试分析陶瓷釉层中的有机物 - 使用飞行时间二次离子质谱法研究釉层和釉层界面的成分 -
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
二宮修治
中科院分区：
文献类型：
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作者：
樋口智寛;水本和美;新免歳靖;二宮修治
