単結晶X線回折とXAFS測定を用いたCe2Pt6X15 (X = Al, Si)の構造解析
単結晶X線回折とXAFS測定を用いたCe2Pt6X15 (X = Al, Si)の構造解析
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使用单晶 X 射线衍射和 XAFS 测量对 Ce2Pt6X15 (X = Al, Si) 进行结构分析
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
松本裕司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
渡部悠貴;太田玖吾;芳賀芳範;畑田圭介;Iesari Fabio;岡島敏浩;松本裕司
