Electroweak corrections for the study of the Higgs potential at the LC
Electroweak corrections for the study of the Higgs potential at the LC
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用于研究液晶希格斯势的电弱校正
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
F.Boudiema et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
土谷暁人;寺尾治彦;栗原良将他;J.Fujimoto et al.;Y.Kurihara;J.Fujimoto et al.;栗原良将 他;K.Kato et al.;J.Fujimoto et al.;J.Fujimoto et al.;J.Fujimoto et al.;K.Kato;J.Fujimoto et al.;J.Fujimoto et al.;J.Fujimoto et al.;J.Fujimoto et al.;Y.Kurihara et al.;K.Kato et al.;J.Fujimoto et al.;J.Fujimoto et al.;F.Boudiema et al.
