Design and evaluation of AC-coupled, FOXFET-biased, “edge-on” silicon strip detectors for X-ray imaging
Design and evaluation of AC-coupled, FOXFET-biased, “edge-on” silicon strip detectors for X-ray imaging
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用于 X 射线成像的交流耦合、FOXFET 偏置、“边缘”硅条探测器的设计和评估
DOI：
10.1016/s0168-9002(96)01076-5
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发表时间：
1997
影响因子：
1.4
通讯作者：
N. Zampa
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
F. Arfelli;V. Bonvicini;A. Bravin;P. Burger;G. Cantatore;E. Castelli;M. Michiel;R. Longo;A. Olivo;S. Pani;D. Pontoni;P. Poropat;M. Prest;A. Rashevsky;G. Tromba;A. Vacchi;N. Zampa
