Characterization of GaN crystals with the X-ray topography
Characterization of GaN crystals with the X-ray topography
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用 X 射线形貌表征 GaN 晶体
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Koichi Akimoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuko Kitano;Mizuki Shoro;Satoko Miyakawa;Koichi Akimoto
